一种用于扁平状碳化硅反射镜镜坯的工业CT无损检测方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种用于扁平状碳化硅反射镜镜坯的工业CT无损检测方法

专利类别:

中国发明

专利（申请）号:

202018007141.2

申请日期:

2020-09-09

第一发明人:

黄政仁

其他发明人:

刘学建，杨晓，杨金晶，陈健，姚秀敏，陈忠明

专利授权日期:

2024-02-23