9月8日上午,应中国科学院上海硅酸盐研究所汪正研究员的邀请，美国纽约州立大学Steven J. Ray博士到上海硅酸盐所进行学术交流，并作了题为New Approaches for Mass Spectrometry: Distance of Flight Mass Spectrometry and Constant Momentum Methods的学术报告。  

　　学术报告吸引了广大青年科研人员和研究生参与。报告会上，Steven博士深入浅出地介绍了一种先进的质谱技术——飞行距离质谱技术，它区别于飞行时间质谱，具有更低的检出限、更好的重复性等分析性能，更为重要的是，该类仪器装置设计简单。目前，此类质谱并无商品化仪器，但其因具备良好的分析性能和小型化的潜力有望从实验室走向商品化。同时，Steven博士也向大家介绍了该技术在同位素分析、痕量和超痕量元素分析以及与激光剥蚀进样装置联用实现固体样品直接分析的应用。Steven 博士风趣幽默，报告严谨精彩，引起了在场科研人员的强烈兴趣。报告结束后，大家踊跃提问，就飞行距离质谱的发展瓶颈、在实际样品中的分析等问题进行了互动交流。 

　　Steven博士简介： 

　　2003年，在印第安纳大学布明顿分校的分析化学学院获得了博士学位，师从国际著名原子光谱专家Gary Hieftje。毕业后，留在Gary Hieftje研究小组担任research scientist。参与设计了双光源ICP / ESI-飞行时间质谱仪。现作为Assistant Professor就职于美国纽约州立大学布法罗分校，目前研究兴趣在飞行距离质谱仪的设计构建及其应用。作为作者或是共同作者在国际影响力期刊上发表超过70篇论文,7项专利和60多篇会议论文。同时，他还是Journal of Analytical Atomic Spectrometry, Analytical and BioAnalytical Chemistry 和 Spectrochimica Acta Part B等有影响力的期刊编委会成员。 　　  

　　Steven博士介绍飞行距离质谱, Distance of Flight Mass Spectrometry (DOF-MS)

　　报告会现场