2009年6月23日~25日，以“纳米电介质的多层次结构及其宏观性能”为主题的354次香山科学会议在北京召开。研讨会倡导人哈尔滨理工大学雷清泉院士、西安交通大学李盛涛教授、南京大学朱劲松教授、清华大学南策文教授和同济大学张冶文教授担任本次会议的执行主席。来自国内外20多所高校及研究机构的30多名学者应邀参加了会议。本次会议是针对我国在能源、交通、微电子应用中迫切需要解决的高性能电介质材料，围绕低维纳米电介质的尺度效应、纳米复合电介质的界面和结构的多尺度效应、纳米电介质微结构、宏观性能与储能、纳米电介质短时破坏和长时损伤演化的时空层次等问题展开讨论。

　  我所信息功能材料与器件研究中心李国荣研究员和李永祥研究员应邀参加了此次会议。李国荣研究员做了题为“无机、有机及其复合电介质的纳米尺度效应”的专题报告。他结合课题组最新研究成果，介绍了无机材料、陶瓷晶粒与晶界、无机纳米/有机复合等电介质中存在的纳米尺寸效应及其物理本质，以及基于扫描探针技术的微区介电特性研究的最新动态。报告中新颖的实验现象和丰富的物理内涵引起了与会专家的极大兴趣和热烈讨论。李永祥研究员在会上做了有关无机－有机纳米电介质与高储能电容器的交流发言。

　  香山科学会议是由国家科技部（前国家科委）发起，在国家科技部和中国科学院的共同支持下于1993年正式创办，相继得到国家自然科学基金委员会、中国科学院学部、中国工程院、国家教育部等多个部委的支持与资助，它是我国科技界以探索科学前沿、促进知识创新为主要目标的高层次、跨学科、小规模的常设性学术会议。

　  本次香山会议关于纳米电介质科学问题的讨论，将促使传统电介质理论过渡到具有奇异理化特性和尺度效应的低维电介质理论，极大地提升电介质学科的基础理论研究水平。加强纳米电介质理论、材料及其工程应用研究，必将推动纳米电介质学科的跨越式发展，发挥其在该领域地主导作用。