辉光放电质谱 Glow Discharge Mass Spectrumeter Analysis

  1)辉光放电质谱仪 

仪器型号:VG9000 

  生产厂家:英国Thermo Elemental 

  负责人:曾旺,朱月琴 

  联系地址:嘉定区和硕路585号E-111

  联系电话:69163596 

  手机号码:18800297325(曾旺),18721850797(朱月琴) 

  邮件地址:zengwang@mail.sic.ac.cn, yqzhu@mail.sic.ac.cn 

  

主要技术指标 

1.可测元素范围:元素周期表中除氢(H)外的所有元素,包括常用分析方法难以测定的CNOPS等轻元素 

2.检测浓度范围:超低检测限,大多数元素的检测限为0.10.001 g G-1 

3.分析速度:快速,一次可给出多量、少量、痕量以及超痕量多元素分析结果

4.激发源:最大功率≥30W;最大激发电压≥50kV,最大激发电流≥1mA 

仪器主要用途  

适用于高纯金属、溅射靶材、稀贵金属、超级合金等材料的痕量杂质的半定量和定量分析,同时可分析CNO等轻元素;半导体材料包括硅片、CdTeGaAs及其他多种高纯电子材料、

无机非金属材料的杂质分析;薄层分析,深度分布剖面分析等 

    

  2)射频辉光放电质谱 

仪器型号:Autoconcept GD 90

  生产厂家:英国MSI 

  负责人:曾旺,朱月琴 

  联系地址:嘉定区和硕路585号E-112 

  联系电话:69163596 

  手机号码:18800297325(曾旺),18721850797(朱月琴) 

  邮件地址:zengwang@mail.sic.ac.cn, yqzhu@mail.sic.ac.cn 

主要技术指标  

1.可测元素范围:元素周期表中除氢(H)外的所有元素,包括常用分析方法难以测定的CNOPS等轻元素 

2.最低检出限:优于100ppt 

3.分辨率:优于4000 

仪器主要用途  

适用于高纯金属、溅射靶材、稀贵金属、超级合金等材料的痕量杂质元素的半定量和定量分析;可直接分析半导体材料、非导体材料等;可对复合材料、镀层、薄膜等进行逐层分析(溅射速率约为:0.38m/min) 

    

  3)辉光放电光谱 

仪器型号:GD-Profiler 2

  生产厂家:HORIBA 

  负责人:曾旺

  联系地址:嘉定区和硕路585号E-114 

  联系电话:69163596 

  手机号码:18800297325 

  邮件地址:zengwang@mail.sic.ac.cn

主要技术指标  

1.可测元素范围:从H元素到U元素(包括CHON等气体元素);

2.溅射速率:1-5 m/min

3.深度分辨率:1 nm

4.采样范围:2/4 mm 

仪器主要用途  

适用于探究镀层/薄膜/涂层样品(包括导体、半导体、非导体)中元素的含量以及元素随深度的分布情况